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José Campos Alvarez

Correo electrónico:
jca@ier.unam.mx
Área de investigación:
Física de Materiales

Líneas de especialización

  • Caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

  • Desarrollo de sistemas de medición

  • Caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

  • microscopía electrónica de barrido

  • caracterización optoelectrónica de materiales y dispositivos

Información institucional
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